点击右上角 ··· 选择
【发送给好友】或【分享到朋友圈】
GB 51122-2015 集成电路封装测试厂设计规范 - 工标库

GB 51122-2015 集成电路封装测试厂设计规范 现行

发布日期:2015-08-27

实施日期:2016-05-01

  • 标准信息
  • 中文目录
  • 英文目录
  • 公告

中文目录

  • 中华人民共和国住房和城乡建设部公告第887号

  • 前  言

  • 1 总  则

  • 2 术  语

  • 3 工艺设计

    • 3.1 一般规定

    • 3.2 技术设备

    • 3.3 工艺布局

  • 4 厂址选择及布局

    • 4.1 厂址选择

    • 4.2 总平面布局

  • 5 建筑与结构

    • 5.1 建  筑

    • 5.2 结  构

    • 5.3 防火与疏散

  • 6 给排水与消防

    • 6.1 给排水

    • 6.2 工艺循环冷却水系统

    • 6.3 消防给水和灭火设备

  • 7 电  气

    • 7.1 供配电

    • 7.2 照  明

    • 7.3 接  地

    • 7.4 防静电

    • 7.5 通信与安全保护

  • 8 净化空调及工艺排风

    • 8.1 净化空调

    • 8.2 冷热源

    • 8.3 工艺排风

  • 9 纯水与废水处理

    • 9.1 纯  水

    • 9.2 废水处理

  • 10 气体与真空

    • 10.1 大宗气体

    • 10.2 干燥压缩空气

    • 10.3 真  空

  • 附录A 集成电路封装测试厂工艺流程

  • 本规范用词说明

  • 引用标准名录

英文目录

  • 1 General provisions

  • 2 Terms

  • 3 Process design

    • 3.1 General requirements

    • 3.2 Technology and equipment

    • 3.3 Process layout

  • 4 Site master design and plan layout

    • 4.1 Site selection

    • 4.2 Overall planning and plan layout

  • 5 Architecture and structure

    • 5.1 Architecture

    • 5.2 Structure

    • 5.3 Fire evacuation

  • 6 Plumbing and fire protection

    • 6.1 Water supply and drainage

    • 6.2 Process recirculated cooling water

    • 6.3 Fire protection and fire hydrant

  • 7 Electrical

    • 7.1 Power supply and distribution

    • 7.2 Lighting

    • 7.3 Grounding

    • 7.4 Protection of electrostatic discharge

    • 7.5 Telecommunication and safety

  • 8 Clean room and process exhaust

    • 8.1 Clean room

    • 8.2 Utilities

    • 8.3 Process exhaust

  • 9 Pure water and waste water

    • 9.1 Pure water

    • 9.2 Waste water

  • 10 Gas and vacuum

    • 10.1 Bulk gases

    • 10.2 Compressed dry air

    • 10.3 Vacuum

  • Appendix A Integrated circuit assembly and test process flow

  • Explanation of wording in this code

  • List of quoted standards

中华人民共和国住房和城乡建设部公告第887号

住房城乡建设部关于发布国家标准《集成电路封装测试厂设计规范》的公告
4-4 0-0 0
现批准《集成电路封装测试厂设计规范》为国家标准,编号为GB 51122—2015,自2016年5月1日起实施。其中,第5.3.1条为强制性条文,必须严格执行。
本规范由我部标准定额研究所组织中国计划出版社出版发行。
中华人民共和国住房和城乡建设部
2015年8月27日

本书术语

术语 英文名称
晶圆 wafer
中测 chip testing
磨片 wafer grinding
划片 wafer saw
粘片 die bond
焊线 wire bond
塑封 molding
电镀 plating
成品测试 testing
晶圆级封装 wafer level packaging

首页 |关于我们 |联系我们 |帮助中心

主办:中国发展改革出版社 版权所有 侵权必究 合作共建单位:中国工程建设标准化协会 京ICP备05021380号-5
新建收藏夹

选择收藏夹

收藏夹名称