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发布日期:2015-08-27
实施日期:2016-05-01
| 【 英 文 名 】 | Code for design of integrated circuit assembly and test factory |
|---|---|
| 【主编部门】 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 【批准部门】 | 中华人民共和国住房和城乡建设部 |
| 【发布单位】 | 中华人民共和国住房和城乡建设部;中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 【主编单位】 | 工业和信息化部电子工业标准化研究院电子工程标准定额站;信息产业电子第十一设计研究院科技工程股份有限公司 |
| 【参编单位】 | 中国电子工程设计院;江苏长电科技股份有限公司;无锡华润微电子有限公司 |
| 【主要起草人】 | 王毅勃;江元升;李骥;肖劲戈;黄华敬;王春;夏双兵;车俊;朱琳;周向荣;肖红梅;黄一义;宋祝宁;王明云;闫诗源 |
| 【主要审查人】 | 陈霖新;王开源;郑秉孝;张人茂;童大江;陈光鸿;李建强;薛长立;何为 |
| 术语 | 英文名称 |
|---|---|
| 晶圆 | wafer |
| 中测 | chip testing |
| 磨片 | wafer grinding |
| 划片 | wafer saw |
| 粘片 | die bond |
| 焊线 | wire bond |
| 塑封 | molding |
| 电镀 | plating |
| 成品测试 | testing |
| 晶圆级封装 | wafer level packaging |
| 收藏夹名称 |
|---|